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栅极氧化层可靠性相关论文
碳化硅MOSFET的短路实验性能与有限元分析法热模型的开发
本文分析碳化硅MOSFET的短路实验(SCT)结果。该实验的重点是在不同条件下进行专门的实验室测量,并借助一个稳健的有限元法物理模型......
期刊
碳化硅(SiC)MOSFET
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失效分析
栅极氧化层可靠性
SiC MOSFETShort circuitThermal modelFailure
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