本文扼要地介绍了透射电子显微镜试样薄片厚度测定的污染线法的基本原理，着重地介绍在日本ＪＥＯＬ ＪＥＭ １００ＣＸ电子显微镜获得污染线并进行有关测量......

这种测量薄膜厚度（０—８００ｕｍ）的装置是基于作者在１９９３年中提出的“污染线”法．它类似于透射电子显微镜（ＴＥＭ）．但简单和便宜得多。对有关部件稍加改善便可......