测试壳相关论文
针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoC中Wrapper/TAM联合最优化方法,用于缩......
超大规模集成电路和超深亚微米技术的快速发展，促使了系统芯片（SystemonChip，SoC）的产生，同时在SoC中也集成了越来越多的嵌入式存储器，因......
论述了层次型IP芯核不同测试模式之间的约束关系，给出了层次型IP芯核的测试壳结构，提出了一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的启发式测......
IEEE 1500标准对测试壳行为和芯核测试语言进行规定,可有效解决嵌入式IP核测试复用的问题.研究了IEEE 1500标准的测试机制,以ISCAS......
期刊
使用HDL硬件描述语言建模了在FPGA芯片中可综合实现的二维网状片上网络,在此基础上建立了片上网络测试平台。提出了一种新颖的基于......
针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoCWrapper/TAM联合优化方法.构造蚁群算......
随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SOC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测......
针对片上系统（SoC）的IP核扫描链分配问题,提出量子蚁群算法对SoC测试壳（Wrapper）进行优化,以有效地解决陷入局部最优解的问题,快速地寻......
基于NoC系统内嵌IP核测试所采用的主流方案是复用NoC自身通信链路作为测试访问通路，以实现测试数据的传输。但是传统的NoC系统是针......
随着半导体工艺的进展和设计水平的提高,芯片(IC)设计业己进入了系统级芯片(SOC)时代。单个芯片上集成了更多数量的晶体管,能够完......
