热载流子注入(HCI)相关论文
研究中提出了用于描述HCI(热载流子注入)效应的MOSFET可靠性模型及其建模方法,在原BSIM3模型源代码中针对7个主要参数,增加了其时间......
可靠性问题始终伴随着超大规模集成电路(VLSI)的发展和应用。随着金属-氧化层-半导体场效晶体管(MOSFET)特征尺寸的不断缩小,热载......
随着集成电路持续不断地向着小型化、高集成度发展,pMOS器件的NBTI (Negative Bias Temperature Instability)和nMOS器件的HCI (Ho......