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片内偏差相关论文

深亚微米工艺片内偏差建模方法研究与分析

随着集成电路产业进入深亚微米阶段，晶体管特征尺寸不断缩小，片内偏差(On-Chip Variation，OCV)现象变的越发明显，已经严重影响芯片的性......

学位

集成电路深亚微米工艺片内偏差静态时序分析

片内偏差空间相关性的非参数化估计方法

现代半导体工业技术飞速发展,晶体管的特征尺寸根据摩尔定律持续地缩小,集成电路芯片的性能飞速的发展,半导体工业已经进入纳米时......

学位

工艺偏差片内偏差空间相关性随机场相关函数各向异性多项式拟合 B样条

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