电子热化相关硕士博士期刊学术论文

本文讨论了ＭＯＳ结构的二氧化硅膜中电子热化现象的实验证据，表明：当氧化物电场≥５ＭＶ／ｃｍ时，注入到二氧化硅膜中的电子逐渐地热化，热电子在二氧化硅......