电磁屏蔽性能测试相关硕士博士期刊学术论文

后摩尔时代,芯片工作频率和集成度越来越高,芯片内部各模组间的电磁干扰问题日益突出,晶圆级电磁兼容设计和测试技术成为必然趋势......