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电路良率相关论文
基于生成模型的高维SRAM电路良率研究
随着器件特征尺寸减小至纳米级别,工艺参数波动对静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)良率的影响越来越大,为保证......
学位
工艺参数波动
高维特征
电路良率
生成模型
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面向存储电路良率分析多失效机理的自适应参数估计算法
随着器件工艺尺寸进入到纳米级别,制造工艺参数波动对电路性能的影响越来越严重,成为限制芯片良率的重要因素之一,使得在设计阶段......
学位
工艺参数波动
多失效机理
电路良率
核密度估计
重要采样
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