利用扫描电镜电子通道衬度技术,对单滑移取向下,疲劳过程中Cu单晶从基体脉络位错结构到驻留滑移带(PSBs)位错结构的演化进行了观察......

利用扫描电镜电子通道衬度(SEM ECC)技术,对单滑移取向疲劳Cu单晶从基体脉络位错结构到驻留滑移带(PSBs)位错结构的演化进行了观察......

利用扫描电镜电子通道衬底技术，对单滑移取向下，疲劳过程中Cu单晶从基体脉络位错结构到驻留滑多带（PSBs)位错结构的演化进行了观察。......

恒塑性应变幅循环加载条件下，单滑移取向的Cu单晶体出现驻留带（Persistent Slip Bands，PSBs）。在铜的（0．3～0．5）TmK中温回复区内，对疲劳Cu单晶......