硅后测试相关论文
硅后时延通路，即时速路径，是制约实际电路最高工作频率的关键路径。而针对时速路径特点及其故障分析、测试等方面的研究，对高性能集成......
指令级测试在当今测试领域正显示出越来越重要的应用价值，随着设计的复杂度日渐增大电路频率不断提高，集成电路的测试面临更加严峻的......
时钟系统是集成电路的重要组成部分。它通过时钟信号实现集成电路各个子系统的协同工作与数据交互，保证了集成电路功能的正确性与可......
随着移动互联网时代的到来,智能手机等便携式电子设备越来越受到人们的青睐,并且这类便携式移动终端对人们的生活已经产生了巨大的......
SoC集成度和复杂度的提高使得现阶段仅依靠传统的硅前功能验证已不能完全保证设计不出任何差错,通过设计合理的片上调试结构在流片......
