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老化感应器相关论文
基于电路故障预测的高速老化感应器
CMOS集成电路中由负温度不稳定性效应引起的老化已经严重威胁电路的可靠性,在一些安全关键领域的数字电路系统中老化问题尤为突出,而......
期刊
负偏置温度不稳定性
电路老化
老化感应器
故障预测
可靠性
negative bias temperature instability(NBTI)
circu
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