为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试......

MIC总线控制器远程模块专用集成电路内部嵌入的存储器采用了存储器内建自测试技术（Memory Built—in—Self Test，MBIST），以此增加测试......

测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下，极大地降低测试时间和测试数据量，弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距，受到学术......

测试压缩在保障测试质量前提下，能有效地减少数字集成电路的测试数据量和测试时间。它作为弥补测试能力提升速度和摩尔定律之间的差......