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良率与成本控制相关论文

推进氧化制程对芯片参数均匀性的影响与改善

为保证商用芯片生产具有高效率、高质量和可靠性, 对某型号芯片的工艺制程进行深入探究, 在关键影响因子的改进方面采取针对性措......

期刊

商用芯片参数均匀性推进氧化制程可靠性良率与成本控制 commercial chip parameter uniformity advance oxida

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