芯片测试技术相关论文
为提高芯片性能可靠性,提出了基于LK8810平台的数字芯片性能的测试方法,并基于LK8810测试机在平台上对典型数字芯片SN74LS08芯片进......
随着集成电路技术的快速发展,数字芯片集成度的提高,数字芯片引脚数量及高速信号种类的增多,对于高性能数字芯片的测试验证分析难......