针对软差错影响下的电路可靠性问题，选取了TP算法、EPP方法和PTM方法3种门级电路可靠性评估方法，分别介绍其原理，并结合实验指出了它......

时序电路的可靠性问题日益成为人们关注的焦点。讨论高层次时序电路的可靠性评估方法,重点研究分析了贝叶斯可靠性分析方法、多阶......

传统的概率转移矩阵（Probabilistic Transfer Matrix,PTM）方法是一种能够比较精确地估计软差错对门级电路可靠度影响的方法,但现有的......

摘要：软差错被认为是现代微处理器可靠性所面临的最主要的挑战，由于软件实现的软差错检测和恢复技术不需要额外的物理资源并能适用于......

随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一。为了有效评估软差错对电路的影响......