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Single event effects(SEEs) induced by radiations become a significant challenge to the reliability for modern electronic......
本文主要目的是对组合逻辑电路中的软误差发生率进行评估，介绍了评估的各个阶段采用的模型，主要包括：电屏蔽模型、锁存窗口屏蔽模型等......
阐述了在大规模集成电路中，由α粒子引起的软误差的两种模式：(1)存储单元模式、(2)位线模式，以及减少α粒子产生的软误差的4种措施。......
虚拟仪器测量中存在着"软误差",这类误差严重时会影响到测量数据的真实度和测量精度。在设计多波形相位差计的测试仿真过程中,由于......
