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软错误易感性相关论文

微处理器软错误易感性评估与缓解方法研究

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软错误易感性软错误缓解方法体系结构弱点因子 AVF评估方法 SimpleSim-ARM模拟器

高性能微处理器动态容软错误设计关键技术研究

随着集成电路制造工艺的发展，辐射和干扰引发的软错误日益增多，从而引发的可靠性降低问题已严重限制现代先进微处理器的发展和应用。......

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软错误易感性动态容软错误可靠性评估阶段识别预测模型低开销设计可靠效能

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