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输入相容相关论文

一种新的基于输入相容的低功耗内建自测试架构

为了降低测试成本，提出了一种降低平均异动次数的低功耗内建自测试架构，以降低单位时间异动的次数．同时应用输入相容的原理来减小测试......

期刊

内建自测试功率消耗低功耗测试输入相容 BIST（Built-In Self Test） power consumption low power test

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