锥光干涉图相关论文
晶体的锥光干涉是测量晶体各种特性参数的常用方法，但由于缺少对锥光干涉图的精确计算方法使测量范围和精度受到了限制。本文根据电......
采用偏光显微镜在平行光和锥光条件下对液晶聚合物膜内分子的取向排列状态进行了研究，不同取向状态的膜由线偏振光或圆偏振光照射偶......
该论文论述了作者对双折射滤波器滤波特性的理论及其应用的研究工作: (1)对双折射滤波器近离轴滤波特性进行了研究,提出了一种Solc......
采用Z片籽晶和锥头籽晶分别进行传统降温法生长KDP晶体,并对其高分辨摇摆曲线、锥光干涉图以及消光比进行测试研究。实验发现,KDP......
根据电磁场的边值关系,导出了不同于菲涅耳公式的晶体界面光振幅的关系,提出了晶体锥光干涉中两相干光的位相差和振幅的计算方法.......
光路调节是电光调制实验中的难点和重点，提出了利用光路调节的基本方法——同轴等高调节，并对电光晶体进行微调，可将光路调到最佳状态......
基于电光效应的基本原理，讨论了铌酸锂（LiNbO3）晶体横向电光调制实验中利用锥光干涉图暗十字线图样确定起偏器和检偏器偏振方向分别平......
针对光轴平行晶体表面时的锥光干涉图,提出了计算干涉场中振幅和相位分布的方法,据此绘制完整的干涉图,方便地显示出晶体参数改变......
针对偏光干涉法测量晶体光轴倾角存在精度低、范围小的缺点，提出了用相对光轴出露点的条纹数而不是距离来决定光轴倾角。将条纹数分......
提出了用CCD摄像机采集晶体锥光干涉图来快速精确测量晶体的光轴方向的方法。转动晶片使光轴的出露点形成圆形轨迹，通过最小二乘法......
研究了液晶分子的排列方式对聚合物膜阻隔特性的影响,采用473 nm线偏振光照无定形偶氮液晶聚合物,使其介晶基元发生从无序到有序的......
采用Z片籽晶和锥头籽晶分别进行传统降温法生长KDP晶体。并对其高分辨摇摆曲线、锥光干涉图以及消光比进行测试研究。实验发现，KDP......
首先测量了KDP溶液的亚稳区,并据此开展＂点籽晶＂KDP晶体快速生长实验。在实验中采用两种晶体运动方法--＂二维平动法＂和＂旋转法＂来生长晶......
