门时滞故障相关论文
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<正>测试问题日益成为VLSI发展中的瓶颈问题,为了减少测试的困难,人们普遍接受的途径是在设计过程中就考虑电路的可测性,即采用可......
根据门时滞故障测试的特点，定义了一种门时滞故障的可测性测度，并提出了相应的计算方法，为基于门时滞故障的电路可测性设计提供了理论......
