用透射电子显微镜研究了３种Ｃｕ双晶循环形变饱和位错结构，双晶标记为「１３５」／「１３５」，「２３５」／「２３５」以及「３４５」／「１１７」／。观察表明，双晶的饱和位错结构和其循......

用透射电子显微镜（ＴＥＭ）研究了受循环应变载荷作用的Ｃｕ双晶中的迷宫形态位错结构。实验表明，迷宫位错结构由两组相互垂直的（００１）和（２１０）位错墙组成。其......