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混合集成电路可测试性设计的研究
超深压微米(VDSM)半导体技术的进展允许将一个复杂的电子系统集成在单一芯片上,即构成一个片上系统(SOC)。随着芯片集成度的增加,......
学位
混合信号电路
可测试性设计
内建自测试
IEEE1149.4协议
10位逐次逼近式模数转换器
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