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MOS门电路相关论文
MOS门电路测试过程中功率损耗最小化
MOS逻辑门电路的功率损耗与其门电路的输出翻转成正比。在测试过程中 ,输出节点反转速率远高于正常使用时 ,很容易造成电路损坏。......
期刊
功率损耗
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MOS门电路
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MOS gate
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