SPV测量相关论文
本文对一种新的测量半导体薄膜少子扩散长度的方法进行剖析并提出一种判断薄膜器件两表面处势垒区中电场相对方向的方法。......
用差分SPV法测量a-Si:H材料的少子扩散长度,可以消除被测样品背面结的影响.本文讨论了这种测量方法的数学模型,导出了测量公式,分......
