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SRAM失配特性相关论文
专用于SRAM失配特性研究的可寻址测试芯片的研究与实现
随着集成电路制造的工艺尺寸不断减小,集成电路制造工艺越来越复杂,由缺陷引起的成品率问题渐趋严重。晶体管的失配问题也因为工艺......
学位
集成电路制造
成品率
测试结构
测试芯片
可寻址
SRAM失配特性
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