本文是《分析试验室》定期评述“Ｘ射线荧光光谱分析”系列评论第７篇，简述了１９９６年７月至１９９８年６月国内Ｘ射线荧光光谱分析技术发展的概况，从Ｘ射线荧光......

利用先进光源（ALS）8.0.1光束线的软X射线荧光谱仪,对采用分子束外延（MBE）设备在200℃下生长的Zn0.97Mn0.03O和Zn0.67Mn0.33O薄膜样品进......