对于８５～１０００ｎｍ的无孔单分散二氧化硅颗粒，采用重力沉降、离心沉降和压片等方法制备了孔结构模型，并采用扫描电镜（ＳＥＭ）、Ｎ２吸附法和压汞法考察了模型的......