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本文在简要介绍了脉冲激光模拟单粒子效应试验装置基础上,以SRAM型FPGA和SRAM两类器件为例,说明了试验装置在单粒子效应阈值与截面测试,敏感区域定位和加固措施验证方面的具体应用实例.脉冲激光作为一种低成本、高效率和易于使用的单粒子效应试验手段,能够在器件单粒子效应敏感度快速评估,器件抗单粒子效应设计加固验证等方面得到广泛应用.