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将分形几何用于涂层导体金属基底及非晶态Al2O3过渡层表面粗糙度的AFM表征和分析
【机 构】
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清华大学物理系应用超导研究中心,北京 100084 北京理工大学物理系,北京 100081
【出 处】
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第十一届全国超导学术研讨会暨超导发现100周年纪念大会
【发表日期】
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2011年3期
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