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该文采用X荧光光谱粉末压片法直接测定钥铕钆富集物中10种稀土元素， 研制了一套与样品相同类型的标准做回归分析，用干扰系数法作谱线重叠校正，用WinXRFV2.0提供的基体影响校正程序修正共存元素的基体效应，根据谱线强度与样品浓度成线性关系，求得分析元素的含量。分析结果与人工合成样品数据一致。方法的精密度为0.21℅～3.16℅。