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在轨、基于空间的、外太空的应用必须考虑高能带电粒子(射线)对电子设备可能造成的影响,特殊地,单粒子翻转( single event upsets,SEU)可能改变静态存储元件(锁存器,触发器,或RAM单元)的逻辑状态.本文提出一种基于动态重配置的SEU故障检测与修复系统的设计方案,能实时检测目标芯片配置内容是否发生SEU故障,并对故障进行修复,回读和部分重配置允许系统检测并修复配置存储器中的SEU,而不打断其操作或FPGA的完全重配置.