我国集成电路测试系统的研制开始于八十年代初。在1984年成立的"北京自动测试技术研究所"专门从事这方面的工作。在上世纪80、90年代基本沿用国家科技攻关的形式。主要精力放在关键技术的掌握、技术指标的提高、跟踪国外产品、打破技术封锁上。由于外国对我们的技术封锁主要在数字集成电路测试系统上,因此攻关的重点也放在数字集成电路测试系统上面。上世纪80年代主要需要突破的技术壁垒是图形产生器和测试头管脚电子电路,90年代以后由于测试头管脚电子电路的解禁,突破的技术重点为图形产生器(速率)。从上世纪90年代末以后,工作重点转向了以市场为导向的产品研发和生产。先是开发和批量生产了3152数字集成电路测试系统并在IC封测厂和测试公司使用,后来又开发和批量生产了3196系列模拟集成电路测试系统,近年来又研发生产了可替代A300/A500系列的"3165-混合集成电路测试系统"。