Planar Capacitive Imaging probe with electrode array for hidden defect in non-conducting materials

来源 :2016远东无损检测新技术论坛 | 被引量 : 0次 | 上传用户:tmhou5648
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  Conventional Capacitive Imaging (CI) technique uses a coplanar probe with two electrodes in air to produce a quasi-static electric field distribution within the material.The capacitive coupling allows the technique to work on a wide variety of material properties,ranging from insulators to metallic conductors.
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