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相控阵天线设计中的统计方法
【机 构】
:
南京电子技术研究所
【出 处】
:
全国雷达新技术研讨会
【发表日期】
:
1988年期
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简要叙述了意大利对挤出绝缘电缆寿命可靠性的一些试验研究方法,并介绍了意大利电工试验中心(CESI)对12KVEPR电缆长期特性研究的一种方法及初步试验结果。(本刊录)