微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响

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在分析采样理论和微扫描理论的基础上,引入了一个评价光电成像系统混淆噪声的品质因数,定量地分析了不同模式的微扫描对系统混淆噪声的改善程度。 Based on the analysis of sampling theory and micro-scanning theory, a quality factor to evaluate the confusion noise of the electro-optical imaging system is introduced to quantitatively analyze how the different modes of micro-scanning improve the system’s confounding noise.
其他文献
介绍了光电成像系统的噪声,运用功率谱分析方法推导了插值技术对噪声的影响。插值技术使时间噪声的功率谱变大,使固定模式噪声功率谱的谱值出现再分配,引起图像质量的改善。