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本文讨论了STN-LCD结构设计参数对低阈值电压产品高温可靠性的影响.通过正交试验分析了STN-LCD结构设计参数对低阈值产品高温可靠性影响的重要性,并找出了这些结构参数的最佳设计值.从中可以看出,正交试验是改进STN-LCD结构设计的一个有效方法.
STN-LCD结构参数对低阈值电压产品高温可靠性的影响
【摘 要】
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本文讨论了STN-LCD结构设计参数对低阈值电压产品高温可靠性的影响.通过正交试验分析了STN-LCD结构设计参数对低阈值产品高温可靠性影响的重要性,并找出了这些结构参数的最佳设计值.从中可以看出,正交试验是改进STN-LCD结构设计的一个有效方法.
【机 构】
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河北冀雅电子有限公司(石家庄)
【出 处】
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2004中国平板显示学术会议
【发表日期】
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2004年5期
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