单量子点在半导体纳米材料中的荧光辐射特性

来源 :第十四届全国发光学学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:weiqiangting
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采用高温固相法制备了Li1-xNaxSm(WO4)2 系列微晶;利用X 射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和荧光分析(FL)等技术手段对制备的Li1-xNaxSm(WO4)2 微晶的晶相结构、形貌和发光性能进行了分析表征;着重研究了掺杂组分x(即Na 的含量)对Li1-xNaxSm(WO4)2微晶的晶相结构,形貌和发光性能的影响。
上转换纳米材料的发光性能研究一直目前科研界备受关注的焦点。刘小刚等课题组研究掺杂过渡元素稀土离子结合包覆等手段提高上装换纳米材料的发光强度。本课题组从掺杂出发,首次在基质中掺杂Mo3+,不仅制备出形貌均匀尺寸较小的纳米颗粒,而且其发光强度较之间提高了9 倍。
近年来,随着人类在高能物理、核物理、工业探测、核辐射检测、石油测井、公共安全等方面活动的加强,对成本低廉、大尺寸的闪烁体的需求也越来越迫切。晶体闪烁体虽然发光效率高,由于拉制周期长,制备工艺复杂,晶体的尺寸受到限制,化学稳定性差,价格昂贵等极大限制了其在相应领域中的广泛应用。
X 射线数字化成像系统的不足主要表现在:成像末端耦合约束、微焦点约束瓶颈以及单光子成像缺陷与量子噪声约束等方面;利用传统的数字图像处理手段很难实现有效的图像滤波;复杂的滤波算法进一步限制其工程使用效果;为了提高X 射线成像系统的光学传递能力与系统抗噪声能力,本文首先以热激发X 辐射源与X 射线像增强器为例,从系统层面探索成像遇到的诸多技术瓶颈,并在此基础上提出了一种针对X 射线成像的积分滤波方法;
随着X 射线探测在医疗、检测与安全方面的广泛应用,可应用于X 射线探测光功能透明微晶玻璃复合材料也得到人们广泛的关注。采用高温熔融法制备了Eu3+掺杂的Gd-Ta 硅铝酸盐玻璃样品,并通过测试密度、X 射线衍射分析、透射电子显微镜、激发与发射光谱以及X 射线激发发射光谱测试了样品的结构和光学性能。
本文采用固相反应方法,以氧化硼(B2O3)为烧结助剂,利用马弗炉结合热等静压烧结的方式成功制备了高透过率的Ce:Gd3Ga2Al3O12(Ce:GGAG)闪烁陶瓷,并对制得的陶瓷样品的晶体结构、显微结构和光学性能进行了表征,研究了B2O3对Ce:GGAG陶瓷的微观结构、光学透过率等性能的影响。