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扫描隧道显微镜(STM)技术可以得到原子级分辨的图像,是非常强大的表面结构表征手段。但由于反映的是吸附物的局域态密度,利用STM 成像对原位结构进行准确的指认必须结合高精度的理论模拟。本报告中将以两个典型的例子说明理论模拟在通过STM 成像对原位结构进行标定时的重要性。