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Bi<,2>O<,3>粒度对ZnO压敏电阻片电气性能的影响
Bi<,2>O<,3>粒度对ZnO压敏电阻片电气性能的影响
来源 :第三届全国氧化锌避雷器学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wyan1215
【摘 要】
:
该文研究了初始平均粒径分别为4.0、1.1、0.5和0.15μm的Bi〈,2〉O〈,3〉粉末对ZnO压敏电阻片小电流特性、残压比以及对其微观结构的影响。实验结果表明,当Bi〈,2〉O〈,3〉粒径增大时,微观结构均匀性提高,残压比
【作 者】
:
胡楠
李盛涛
王琨
刘辅宜
【机 构】
:
西安交通大学电气绝缘研究所
【出 处】
:
第三届全国氧化锌避雷器学术交流会
【发表日期】
:
1998年期
【关键词】
:
粒度
压敏电阻片
电气性能
微观结构
残压比
结构均匀性
平均粒径
电流特性
实验
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该文研究了初始平均粒径分别为4.0、1.1、0.5和0.15μm的Bi〈,2〉O〈,3〉粉末对ZnO压敏电阻片小电流特性、残压比以及对其微观结构的影响。实验结果表明,当Bi〈,2〉O〈,3〉粒径增大时,微观结构均匀性提高,残压比降低。
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