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研究了用融片-XRF法测定保护渣中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、Fe2O3、Na2O、K2O和F八组分的含量。考察了样片制备方法，试验的分析条件及工作曲线的配制。结果表明，方法精密度优于了相应化学分析检测标准规定的精密度。
X射线荧光光谱法测定结晶器保护渣中各组分
【摘 要】
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研究了用融片-XRF法测定保护渣中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、Fe2O3、Na2O、K2O和F八组分的含量。考察了样片制备方法，试验的分析条件及工作曲线的配制。结果表明，方法精密度优于了
【机 构】
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武汉钢铁股份有限责任公司质检中心,武汉430080
【出 处】
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2008年全国化学及光谱分析学术会议
【发表日期】
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2008年7期
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