IC失效分析中电测技术及其应用研究

来源 :2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:exampleyuyu10
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本文对IC失效分析中电测技术进行了介绍,包括敏感参数测试中的待机电流测试、瞬态电流测试、端口Ⅳ特性测试、扫描端口测试,并对各种电测技术进行了举例说明.
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