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为了充分利用现有数据,使可靠性预计结果更为准确,部分电子产品可靠性预计手册已陆续开始采用修正方法,这些修正方法包括：过程评分修正法、试验数据修正法和使用数据修正法。本文总结归纳了这三类修正方法的引入背景、目的意义、基本思想、修正模型,并从理论依据、数据来源、数据有效程度、优缺点等方面对这三种修正方法进行了比较分析。最后本文分析了使电子产品可靠性预计趋于准确的途径,指出从物理机理的角度建立修正模型是未来电子产品可靠性预计修正方法的重要发展方向。