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少数载流子寿命（简称少子寿命）是晶硅材料的一项重要参数，它对晶体硅太阳电 池的光电转换效率有重要的影响。根据太阳电池电致发光强度分布与少子寿命分布模型，结 合多晶硅太阳电池片缺陷电致发光（EL）检测仪测出图像，分析对比实验数据，找出太阳电 池电致发光强度与少子寿命，电致发光强度与太阳电池效率之间的关系。