为进行杂质监测及输运研究,在HL-2A上发展了具有空间分布测量能力的极紫外(EUV)光谱仪系统。EUV光谱仪主要由入射狭缝、空间分辨狭缝、变间距全息光栅和CCD相机构成。CCD探测器安装在远程控制移动系统上,可以在30～600 A波长范围内对杂质线辐射进行测量。光谱仪的入射角为87°,利用30μm的入射狭缝可以得到高光谱分辨率,即在200 A为0.22 A。该系统安装在装置中平面上侧,对等离子体进行俯视观测,主要测量位于等离子体下半空间范围的光谱辐射。为了能够对杂质进行定量研究,需要对测得的空间分布中的空间位置进行绝对标定。最近,在诊断窗口处安装一个宽5 mm的金属条,用于作为空间位置标定的参照基准点。由于光栅工作原理,不同波长位置在光栅与探测器之间的光程是不同的,这里对光谱仪测得的杂质辐射分布中的空间位置在波长工作范围内进行了精确的标定。基于空间位置的绝对标定,利用阿贝尔变换分析得到在HL-2A等离子体中观测到的EUV线辐射的分布。