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本文研究了金属氧化物CO2O3压敏陶瓷中晶粒生长和电学性能的影响.分析了CO2O3含量对ZnO半导体陶瓷各种性能的改善以及所产生缺陷类型.实验结果表明:随着CO2O3含量在0.6mol﹪-0.2mol﹪范围内的减少,ZnO压敏陶瓷的平均晶粒大小降低,工频耐受力提高,非线性系数增大,在一定程度上掩盖了ZnO晶粒本征缺陷对ZnO陶瓷电导率的影响,使半导体的电导率获得可控性.为获得产品优良的重复性和稳定性,以及低成本起到十分重要的作用.