激光干涉光刻制备高均匀性纳米图形的胶厚研究

来源 :第十四届全国固体薄膜学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:bleachff
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
  目前制备纳米图形的方法主要有板紫外光刻、电子束光刻、聚焦离子束光刻、纳米压印、激光干涉光刻等.而激光干涉光刻相比其他光刻技术有着大面积、低成本、高效率等突出的特点,其利用两束光的干涉现象、形成明暗相见的条纹,并在光刻胶上记录下来,进而得到光刻图形.本文通过激光干涉光刻技术制备出高均匀性的周期性纳米图形.我们采用自主搭建的双光束激光干涉光刻系统在Si衬底上制备纳米图形,使用的光源是波长为325nm的He-Cd激光器,使用的光刻胶为德国AllResist公司生产的AR-3840正性光刻胶.实验中将光刻胶稀释成比例分别为1∶1.5和1∶3.5两组,可得到厚度分别为200nm和100nm的光刻胶层.在分别曝光显影后,得到460nm周期的纳米图形.如图一所示,200nm的胶厚显影后,出现了上下两层的台面结构,这是由于驻波效应导致光刻胶点粒在垂直衬底方向上出现周期性起伏边界.为了避免驻波效应,得到高质量的纳米图形,我们使用1∶3.5稀释比例的光刻胶,将胶厚限制在100nm.如图二所示,胶点图形均一,边界清晰陡直,这是因为胶厚接近激光波长的四分之一,在垂直界面上的光场分布不足以形成多个驻波台面,保证了高质量纳米图形的制备.因此,我们搭建的激光干涉光刻系统具有制备高为100nm的纳米图形,并且经过反复多次的实验,该系统具有较高的稳定性.
其他文献
从传统微电子学转向自旋电子学器件,一个重要的途径是将氧化物集成到Si村底上,其关键是获得高质量的氧化物/硅界面.然而,由于O与Si只需哪怕最少的接触既可生成SiO2,获取高质量的氧化物/硅界面始终是一个极具挑战的任务.实验发现,在Si(001)衬底上,预生长1.08ML的Sr,有望获得高质量的SrTiO3/Si(001)界面ⅰ.但是,这种预生长技术对其他氧化物/硅界面的生长效果并不好ⅱ.显然,从实
会议
采用阳极氧化法制备Cu掺杂TiO2纳米管阵列薄膜,并对样品进行了紫外-可见漫反射光谱、XRD、SEM和光电性能的分析.研究了Cu掺杂对TiO2膜吸收边红移的影响,并探索其机理.XRD结果表明:500℃下退火处理得到的薄膜主要为锐钛矿相,但随着Cu掺量的提高,薄膜XRD衍射峰明显宽化,结晶性变差,将会在TiO2薄膜晶体中引入缺陷.对比Cu掺杂前后TiO2纳米管的SEM图,表明Cu不是以表面修饰的形式
The dream of epitaxially integrating Ⅲ-Nitride semiconductors on silicon is being fulfilled through the R&D effort of academia and industry, which is driven by the great potential of GaN-on-Silicon te
会议
当今,OLED、OPV等有机电子器件迅猛发展.有机电子器件具有轻、薄、柔等特色.有机电子器件封装要求低温、柔性、薄膜封装.交替结构薄膜被认为是最有效薄膜封装方式.制备交替结构薄膜的主要方法有:(1)有机(涂敷)/无机(溅射)交替结构;(2)无机(ALD)/无机(ALD)交替结构;(3)有机(PECVD)/无机(PECVD)交替结构.其中PECVD能实现有机/无机交替结构同源、同腔生长而更受青睐.本
Needles and cracks in tin-doped indium oxide tablets during electron beam evaporation process are investigated for transparent and conducting oxide films.The formation of needles is predominantly resu
利用脉冲激光分子束外延技术(L-MBE)在(0001)蓝宝石衬底上沉积了β-Ga2O3薄膜,XRD分析结果显示,该薄膜具有(-201)取向,反射高能电子衍射(RHEED)图像表明薄膜具有很好的外延性.通过紫外可见吸收(UV-Vis)谱分析得到薄膜的禁带宽度~5.02 eV.利用这种薄膜制备出了金属/半导体脸属(MSM)结构的光电探测器原型器件,测试结果显示,在254 nm光照射下,明/暗电流比约为
Aluminium nitride (AlN) is a well-known wide bandgap semiconductor.It has great potential applications in field emission device due to its negative electron affinity.Also, its highly stable chemical a
会议
The critical effect of the thickness of Ni film on the performance of the ohmic contact of Ni/Au to p-GaN is studied.The Ni/Au metal films with thickness of 15/50 nm on p-GaN led to better electrical
会议
The metamorphic Al(Ga)InAs buffers grown on (001) GaAs substrates withmisorientations of 2°, 7°and15° toward (111) A by low pressure metalorganic chemical vapor deposition are characterized by high re
AlN及其合金是深紫光电子器件和高频大功率微波器件的理想制备材料.然而由于AlN本身的材料特性,导致其生长制备比较困难.一般而言,其生长温度通常比较高,如国内外报道MOCVD和HVPE的生长温度一般在1400℃以上[1-2].本工作利用自主研制的高温HVPE系统,在不同衬底上研究了AlN外延生长特性,探讨了生长条件对AlN生长模式的影响.实验发现在一定温度下,通过控制Al源输入偏压,可实现表面原子