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本文以大豆籽粒样品为对象,通过3次重复装样扫描得到三张单光谱,利用其中单光谱和三张光谱的平均光谱建立近红外模型,并对模型进行验证,探讨光谱代表性对近红外数学模型稳定性的影响.结果表明,用平均光谱建立的模型稳定性优于单光谱所建模型.对于籽粒状样品,多次重复装样扫描取平均提高了光谱代表性,进而改善了近红外数学模型的稳定性.