金属化膜电容器击穿机理及自愈模拟试验研究

来源 :中国电机工程学会高电压专业委员会2009年学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:qq3248893
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
自愈性能是金属化膜电容器工作场强得以提高的重要原因,其主要包括介质膜击穿及金属层退化两个过程。影响电容器自愈能量的因素包括蒸镀电极的厚度、工作电压、电容量以及元件内部强压等。本文探讨了介质膜空间电荷击穿机理并对金属化膜电容样品进行自愈模拟试验,分析内部压强、工作电压对自愈性能的影响,并对相关参数进行优化,使电容器自愈性能得到改进,延长电容器元件的使用寿命。
其他文献