USB端子产生锈蚀的机理研究

来源 :中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：xstyx

【摘要】

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本文通过对USB连接线中USB端子表面产生锈蚀机理的分析与试验验证,发现了导致USB锈蚀的主要机理是壳外被覆的聚氯乙烯(PVC)塑胶层因其稳定性不理想,在高温高湿的环境条件下容

【作者】

：

蔡颖颖;罗道军;

【机构】

：

信息产业部电子第五研究所,广州 510610

【出处】

：

中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会

【发表日期】

：

2008年期

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本文通过对USB连接线中USB端子表面产生锈蚀机理的分析与试验验证,发现了导致USB锈蚀的主要机理是壳外被覆的聚氯乙烯(PVC)塑胶层因其稳定性不理想,在高温高湿的环境条件下容易分解产生腐蚀性的氮化氢气体残存于USB壳表面,并在空气中存在的氧气及水的共同作用下使其发生了腐蚀;当USB壳表面镀层存在缺陷或污染时,这种锈蚀愈发严重.同时本文针对锈蚀产生的机理给出了相应的控制对策.

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