Positive Gate Bias Instability in Amorphous InGaZnO Thin Film Transistors with various Active Layer

来源 :2015广东材料发展论坛——新材料与先进制造大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Manjay
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The threshold voltage shift (△Vth) under positive gate bias stress (PGBS), generally found in amorphous InGaZnO thin film transistors (a-IGZO TFTs),has usually been suppressed by the external passivation layers.We report it can also be alleviated by the self-passivation effect of the active layer,where moderately increasing the active layer thickness (ds) reduces △Vth by 82% in SiOx-passivated a-IGZO TFTs.
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